方块电阻测试仪身为主要的几种测试仪，今天我将为您讲解一下方块电阻测试仪的四探针法功能说明。
方块电阻的计算方法
方形电阻又称薄膜电阻，用于间接表征薄膜、玻璃涂层等样品真空镀膜的热红外性能，可直接转化为热红外发射率。
方块电阻的计算方法：
方块可以进行一个电阻：Rs=ρ/t(其中ρ为块材的电阻率,t为块材厚度)
或者电导率的表达式: rs-1/(t)
这样，我们的老师在计算方块电阻时，就可以用一个方块电阻乘以长宽比得到，计算教学过程与尺寸无关:
R-RS-L/W (L 是块长，W 是块宽)
方阻网络测试仪主要用于控制半导体复合材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)的电阻率，以及信息扩散层、外延层、ITO导电箔、导电金属橡胶方阻的测量和分析仪器。
方形电阻测试新产品为薄膜测试系统提供了机电面对面的信息保护，测量范围广泛，使各种企业电子薄膜能够更加准确、无损地测量方块电阻测试结果。
由于新型薄膜材料种类繁多，样品的性能在开发过程中变化很大，各种薄膜的机械强度、允许电压和电性能也不尽相同，因此测试仪可以为用户量身定制探针压力和曲率半径恒定的各种探针头，测试电压和电性能可以不断调整，为薄膜和涂层的开发者探索测试条件提供了广阔的空间。
由于发展中国传统仪器有限公司设有恒源开关，并且需要我们所有电档在探针与样品进行社会接触后均有电接通的功能，充分发挥环境保护了样品表面不会出现因为探针接触时产生的电火花而受到影响严重损坏
以上便是方块电阻测试仪的四探针法功能的说明，如果您有更多问题想要咨询，可以咨询苏州晶格电子有限公司。
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